Найдено документов - 26 | Найти похожие: "Индекс ББК" = '32.852' | Версия для печати |
Сортировать по:
1. Книга
Диоды и тиристоры в преобразовательных установках / М. И. Абрамович [и др.]. - Москва : Энергоатомиздат, 1992. - 430 с. : ил. - Библиогр.: с. 424-430. - ISBN 5283006700. - Текст : непосредственный.
Авторы: Абрамович М. И., Бабайлов В. М., Либер В. Е., Савкович А. А.
Шифры:
Полочный: 32.852
Авторский знак: Д 46
ББК: 32.852;
Полочный: 32.852
Авторский знак: Д 46
ББК: 32.852;
Ключевые слова: диоды, охлаждение диодов, полупроводниковые приборы, преобразовательные установки, силовые диоды, тиристоры
Рубрики: Радиоэлектроника - Полупроводниковые приборы
Экземпляры: Всего: 1, из них:
ФМФ и ТЭФ (пр.Пионерский,13) - свободно 1 из 1
ФМФ и ТЭФ (пр.Пионерский,13) - свободно 1 из 1
2. Книга
Васерин, Н. Н.
Применение полупроводниковых индикаторов / Н. Н. Васерин, Н. К. Дадерко, Г. А. Прокофьев. - Москва : Энегоатомиздат, 1991. - 196 с. : ил. - Библиогр.: с. 195-196. - ISBN 5283015246. - Текст : непосредственный.
Применение полупроводниковых индикаторов / Н. Н. Васерин, Н. К. Дадерко, Г. А. Прокофьев. - Москва : Энегоатомиздат, 1991. - 196 с. : ил. - Библиогр.: с. 195-196. - ISBN 5283015246. - Текст : непосредственный.
Авторы: Васерин Н. Н.
Шифры:
Полочный: 32.852
Авторский знак: В 19
ББК: 32.852;
Полочный: 32.852
Авторский знак: В 19
ББК: 32.852;
Ключевые слова: Индикаторные устройства, Индикаторы, Полупроводниковые индикаторы, Полупроводниковые приборы, Примениение индикаторов, Цифровые индикаторы
Рубрики: Радиоэлектроника - Полупроводниковые приборы
Экземпляры: Всего: 1, из них:
ФМФ и ТЭФ (пр.Пионерский,13) - свободно 1 из 1
ФМФ и ТЭФ (пр.Пионерский,13) - свободно 1 из 1
3. Книга
Коломбет, Е. А.
Применение аналоговых микросхем / Коломбет Е. А., Юркович К., Зодл Я. - Москва; Братислава : Радио и связь ; Альфа, 1990. - 320 с. : ил. - ISBN 5256003410; 8005005288. - Текст : непосредственный.
Применение аналоговых микросхем / Коломбет Е. А., Юркович К., Зодл Я. - Москва; Братислава : Радио и связь ; Альфа, 1990. - 320 с. : ил. - ISBN 5256003410; 8005005288. - Текст : непосредственный.
Авторы: Коломбет Е. А., Юркович К., Зодл Я.
Шифры:
Полочный: 32.852
Авторский знак: К 61
ББК: 32.852;
Полочный: 32.852
Авторский знак: К 61
ББК: 32.852;
Ключевые слова: Аналоговые микросхемы, Аналоговые умножители, Интегральные стабилизаторы, Компараторы напряжения, Микросхемы, Полупроводниковые приборы, Преобразователи, Стабилизаторы, Таймеры, Умножители, Цифро-аналоговые преобразователи
Рубрики: Радиоэлектроника - Полупроводниковые приборы
Экземпляры: Всего: 1, из них:
ФМФ и ТЭФ (пр.Пионерский,13) - свободно 1 из 1
ФМФ и ТЭФ (пр.Пионерский,13) - свободно 1 из 1
4. Книга
Мокеев, О. К.
Полупроводниковые приборы и микросхемы : учебное пособие для ПТУ. - Москва : Высшая школа, 1987. - 112 с. : ил. - ISBN XXXXXXXX. - Текст : непосредственный.
Полупроводниковые приборы и микросхемы : учебное пособие для ПТУ. - Москва : Высшая школа, 1987. - 112 с. : ил. - ISBN XXXXXXXX. - Текст : непосредственный.
Авторы: Мокеев О. К.
Шифры:
Полочный: 32.852
Авторский знак: М 74
ББК: 32.852;
Полочный: 32.852
Авторский знак: М 74
ББК: 32.852;
Ключевые слова: Аналоговые микросхемы, Интегральные микросхемы, Микросхемы, Оптоэлектронные приборы, Полевые транзисторы, Полупроводниковые диоды, Полупроводниковые приборы, Свойства полупроводников, Тиристоры, учебные пособия, Цифровые микросхемы
Рубрики: Радиоэлектроника - Полупроводниковые приборы
Экземпляры: Всего: 1, из них:
ФМФ и ТЭФ (пр.Пионерский,13) - свободно 1 из 1
ФМФ и ТЭФ (пр.Пионерский,13) - свободно 1 из 1
5. Книга
Блихер, А.
Физика силовых биполярных транзисторов : перевод с английского / под ред. И.В.Грехова. - Ленинград : Энергоатомиздат, 1986. - 248 с. : ил. - Библиогр.: с. 238-245. - ISBN XXXXXXXX. - Текст : непосредственный.
Физика силовых биполярных транзисторов : перевод с английского / под ред. И.В.Грехова. - Ленинград : Энергоатомиздат, 1986. - 248 с. : ил. - Библиогр.: с. 238-245. - ISBN XXXXXXXX. - Текст : непосредственный.
Авторы: Блихер А.
Шифры:
Полочный: 32.852
Авторский знак: Б 69
ББК: 32.852;
Полочный: 32.852
Авторский знак: Б 69
ББК: 32.852;
Ключевые слова: Силовые биполярные транзисторы, Биополярные мощные транзисторы, Полевые транзисторы, Электроника
Рубрики: Радиоэлектроника - Полупроводниковые приборы
Экземпляры: Всего: 1, из них:
ФМФ и ТЭФ (пр.Пионерский,13) - свободно 1 из 1
ФМФ и ТЭФ (пр.Пионерский,13) - свободно 1 из 1
6. Статья из журнала
Электрофизические и физико-химические свойства омических контактов для соединений III-N / В. Н. Брудный [и др.]
// Известия вузов. Физика. - 2018. - Т. 61, № 8. - С. 73-78. - ISSN 0021-3411. - Режим доступа: https://elibrary.ru/contents.asp?titleid=7725. - Библиогр.: с. 77-78 (53 назв. ). - рис., табл.
// Известия вузов. Физика. - 2018. - Т. 61, № 8. - С. 73-78. - ISSN 0021-3411. - Режим доступа: https://elibrary.ru/contents.asp?titleid=7725. - Библиогр.: с. 77-78 (53 назв. ). - рис., табл.
Авторы: Брудный, В. Н., Вилисова, М. Д., Великовский, Л. Э., Сим, П. Е., Брудный, П. А.
Ключевые слова: HTMТ-транзисторы, металлизация, многослойная металлизация, невыпрямляющие контакты, нитрид галлия, обработка поверхности, омические контакты, твердые растворы AlInGaN, уровень зарядовой нейтральности
Рубрики: Физика
Экспериментальные методы и аппаратура молекулярной физики
Радиоэлектроника
Полупроводниковые приборы
Экспериментальные методы и аппаратура молекулярной физики
Радиоэлектроника
Полупроводниковые приборы
Аннотация: Проведен анализ экспериментальных данных по исследованию омических контактов на основе однослойных и многослойных металлизаций к GaN и твердым растворам (In, Al, Ga) N. Экспериментально исследованы металлизации Ti/Al/Mo/Au и Ti/Al/Mo/W/Au к нелегированному GaN и влияние обработки поверхности пластин GaN перед металлизацией, а также режима отжига контакта.
7. Статья из журнала
Давыдов, В. Н.
Эквивалентная схема гетероструктуры с множественными квантовыми ямами / В. Н. Давыдов, Д. А. Новиков
// Известия вузов. Физика. - 2015. - Т. 58, № 7. - С. 102-109. - ISSN 0021-3411. - Библиогр.: c. 109 (8 назв. ). - рис.
Эквивалентная схема гетероструктуры с множественными квантовыми ямами / В. Н. Давыдов, Д. А. Новиков
// Известия вузов. Физика. - 2015. - Т. 58, № 7. - С. 102-109. - ISSN 0021-3411. - Библиогр.: c. 109 (8 назв. ). - рис.
Авторы: Давыдов, В. Н., Новиков, Д. А.
Ключевые слова: RC-цепи, гетероструктуры, квантовые ямы, резистивные свойства, схема замещения, эквивалентные схемы гетероструктур
Рубрики: Радиоэлектроника
Полупроводниковые приборы
Полупроводниковые приборы
Аннотация: Из рассмотрения физических процессов в гетероструктуре с квантовыми ямами (КЯ) оставлена ее эквивалентная схема, включающая барьерную емкость и дифференциальное сопротивление p-n -перехода, емкость и сопротивление релаксации заряда в КЯ, а также сопротивление поставки свободных носителей заряда в КЯ. Получены аналитические выражения для эквивалентной емкости и эквивалентного сопротивления гетероструктуры последовательной схемы замещения, а также проанализировано поведение эквивалентных параметров при изменении частоты тестового сигнала. Результаты экспериментальных исследований емкостных и резистивных свойств гетероструктур с КЯ на основе барьеров InGaN/GaN подтверждают расчетные зависимости их эквивалентных параметров, а также показывают их зависимость от особенностей кинетических свойств гетероструктур.
8. Статья из журнала
Алмаев, А. В.
Характеристики сенсоров водорода на основе тонких пленок диоксида олова, модифицированных платиной, палладием, серебром и иттрием / А. В. Алмаев, В. И. Гаман
// Известия вузов. Физика. - 2018. - Т. 61, № 6. - С. 136-141. - ISSN 0021-3411. - Режим доступа: https://elibrary.ru/contents.asp?titleid=7725. - Библиогр.: с. 141 (6 назв. ). - рис., табл.
Характеристики сенсоров водорода на основе тонких пленок диоксида олова, модифицированных платиной, палладием, серебром и иттрием / А. В. Алмаев, В. И. Гаман
// Известия вузов. Физика. - 2018. - Т. 61, № 6. - С. 136-141. - ISSN 0021-3411. - Режим доступа: https://elibrary.ru/contents.asp?titleid=7725. - Библиогр.: с. 141 (6 назв. ). - рис., табл.
Авторы: Алмаев, А. В., Гаман, В. И.
Ключевые слова: абсолютная влажность, водород, диоксид олова, изгиб энергетических зон, модификаторы, модифицирующие добавки, режим термоциклирования, сенсоры водорода, термоциклирование, энергетические зоны
Рубрики: Радиоэлектроника
Полупроводниковые приборы
Полупроводниковые приборы
Аннотация: Исследуется зависимость характеристик сенсоров водорода на основе тонких пленок Pt/Pd/SnO[2]: Sb, Ag, Y и Ag/SnO[2]: Sb, Ag, Y, полученных методом магнетронного распыления на постоянном токе, от уровня влажности газовой смеси при работе в режиме термоциклирования. Анализ экспериментальных данных проводился при помощи выражений, полученных на основе модели диссоциативной адсорбции молекул водорода и воды на поверхности SnO[2] с учетом наличия трех типов адсорбированных частиц: О{-}, ОН, ОН{-}. Использование сложных модификаторов Pt/Pd, Ag на поверхности и Ag + Y в объеме пленок диоксида олова позволяет снизить влияние влажности на характеристики сенсоров. Установлена роль этих модифицирующих добавок в процессе диссоциативной адсорбции молекул водорода на поверхность пленок SnO{2} во влажной среде.
9. Статья из журнала
Алмаев, А. В.
Характеристики сенсоров водорода на основе тонких пленок диоксида олова, модифицированных золотом / А. В. Алмаев, В. И. Гаман
// Известия вузов. Физика. - 2017. - Т. 60, № 7. - С. 3-8. - ISSN 0021-3411. - Режим доступа: https://elibrary.ru/contents.asp?issueid=1880400. - Библиогр.: c. 8 (6 назв. ). - рис., табл.
Характеристики сенсоров водорода на основе тонких пленок диоксида олова, модифицированных золотом / А. В. Алмаев, В. И. Гаман
// Известия вузов. Физика. - 2017. - Т. 60, № 7. - С. 3-8. - ISSN 0021-3411. - Режим доступа: https://elibrary.ru/contents.asp?issueid=1880400. - Библиогр.: c. 8 (6 назв. ). - рис., табл.
Авторы: Алмаев, А. В., Гаман, В. И.
Ключевые слова: абсолютная влажность, адсорбция атомов, водород, газовые сенсоры, диоксид олова, изгиб энергетических зон, каталитические модификаторы, режим термоциклирования, сенсоры водорода, тонкопленочные структуры диоксида олова
Рубрики: Радиоэлектроника
Полупроводниковые приборы
Полупроводниковые приборы
Аннотация: Представлены результаты исследований характеристик сенсоров на основе тонких пленок диоксида олова, модифицированных золотом (Au/SnO[2]: Sb, Au), в режиме термоциклирования в интервалах температур от 623 до 773 K и абсолютной влажности от 2. 5 до 20 г/м{3}, при воздействии водорода концентрацией от 10 до 2000 ppm. Экспериментальные данные обсуждаются при использовании выражений, полученных в рамках модели, учитывающей наличие трех типов адсорбированных частиц (O-, OH и OH-) на поверхности нанокристаллов SnO[2]. Проведено сравнение характеристик сенсоров на основе тонких пленок Pt/Pd/SnO[2]: Sb (первая серия) и Au/SnO[2]: Sb, Au (вторая серия). Установлено, что степень диссоциации молекулярного водорода на атомы при адсорбции на сенсор и взаимодействии с частицами Au на поверхности SnO[2] в 4 раза больше, чем при взаимодействии с частицами Pt/Pd. Степень диссоциации молекул H[2]O на атомы водорода и гидроксильные группы в чистом влажном воздухе на поверхности сенсоров второй серии в 1. 6 раза больше, чем на поверхности сенсоров первой серии. Таким образом, золото является более эффективным стимулятором диссоциации молекул H[2] и H[2]O, чем платина и палладий. Получена формула, которая более точно описывает зависимости отклика сенсоров обеих серий на воздействие водорода от концентрации этого газа и от температуры приборов.
10. Статья из журнала
Схемотехнические SPICE-модели биполярных и МОП-транзисторов для автоматизации проектирования радиационно стойких БИС / К. О. Петросянц [и др.]
// Информационные технологии. - 2015. - Т. 21, № 12. - С. 916-922. - ISSN 1684-6400. - Библиогр.: с. 922 (27 назв.).
// Информационные технологии. - 2015. - Т. 21, № 12. - С. 916-922. - ISSN 1684-6400. - Библиогр.: с. 922 (27 назв.).
Авторы: Петросянц, К. О., Харитонов, И. А., Кожухов, М. В., Самбурский, Л. М.
Ключевые слова: биполярные транзисторы, гетеропереходные биполярные транзисторы, МОП-транзисторы, ионизирующее излучение, SPICE-модели, системы автоматизированного проектирования, САПР, схемотехническое моделирование, радиационная стойкость
Рубрики: Радиоэлектроника
Полупроводниковые приборы
Полупроводниковые приборы
Аннотация: В работе сделана попытка снять существующие ограничения в части учета радиационных эффектов. Предложен набор компактных схемотехнических моделей биполярных и МОП-транзисторов, учитывающих различные виды радиационных воздействий.
11. Статья из журнала
Структура и свойства поверхностного слоя цирконий-ниобиевого сплава, подвергнутого высокодозной имплантации ионами изотопа бора 10В+ / Ю. Ф. Иванов, В. П. Фролова, А. С. Бугаев [и др.]. - Текст : непосредственный
// Известия вузов. Физика. - 2021. - Т. 64, № 5. - С. 26-31. - ISSN 0021-3411. - Библиогр.: с. 31 (12 назв. ).
// Известия вузов. Физика. - 2021. - Т. 64, № 5. - С. 26-31. - ISSN 0021-3411. - Библиогр.: с. 31 (12 назв. ).
Авторы: Иванов, Ю. Ф., Фролова, В. П., Бугаев, А. С., Кадлубович, Б. Е., Николаев, А. Г., Петрикова, Е. А., Толкачев, О. С., Юшков, Г. Ю.
Ключевые слова: дефектная субструктура, ионная имплантация, ионы изотопа бора 10В+, коррозионная стойкость, поверхностные слои цирконий-ниобиевого сплава, ускоренные ионы бора, фазовый состав, физическое материаловедение, цирконий-ниобиевый сплав
Рубрики: Физика
Физика твердого тела. Кристаллография в целом
Техника
Материаловедение
Радиоэлектроника
Полупроводниковые приборы
Физика твердого тела. Кристаллография в целом
Техника
Материаловедение
Радиоэлектроника
Полупроводниковые приборы
Аннотация: Создание имплантированных изотопом бора 10В слоев на элементах активной зоны ядерного реактора, вследствие аномально большого сечения захвата нейтронов, может обеспечить снижение реактивности реактора в начале компании по его эксплуатации. Установлено, что имплантация ионами бора 10В+ с энергией 22 кэВ при дозе 7*10{16} ион/см{2} приводит к увеличению микротвердости поверхности с 3 ГПа для исходного до 3. 7 ГПа для имплантированного образца. Обнаружено, что скорость коррозии образцов сплава Э110 в 1%-м растворе HF после имплантации (энергия ионов 10В+ - 22 кэВ, доза – 7*10{16} ион/см{2} в 1. 2-1. 4 раза ниже, чем для исходного сплава. Показано, что имплантация сплава Э110 ионами бора 10В+ сопровождается формированием в поверхностном слое субзеренной структуры размерностью 100-200 нм, увеличением скалярной плотности дислокаций, выделением наноразмерных 1. 8-2. 3 нм частиц борида циркония.
12. Статья из журнала
Сильноточный имульсно-периодический ускоритель электронов "SINUS-320": формирование и диагностика широкоапертурного пучка / В. В. Ростов [и др.]
// Известия вузов. Физика. - 2019. - Т. 62, № 7. - С. 147-152. - ISSN 0021-3411. - Режим доступа: https://elibrary.ru/contents.asp?id=39214844. - Библиогр.: с. 152 (22 назв. ).
// Известия вузов. Физика. - 2019. - Т. 62, № 7. - С. 147-152. - ISSN 0021-3411. - Режим доступа: https://elibrary.ru/contents.asp?id=39214844. - Библиогр.: с. 152 (22 назв. ).
Авторы: Ростов, В. В., Бармин, В. В., Ландль, В. Ф., Выходцев, П. В., Артёмов, К. П., Степченко, А. С.
Ключевые слова: SINUS-320, взрывоэмиссионная плазма, диагностика широкоапертурного пучка, имульсно-периодический ускоритель электронов, металлодиэлектрический катод, сильноточные ускорители, сильноточный электронный ускоритель, стабилизация тока, ускоритель электронов SINUS-320, эффект стабилизации тока
Рубрики: Физика
Электронные и ионные явления. Физика плазмы
Радиоэлектроника
Полупроводниковые приборы
Электронные и ионные явления. Физика плазмы
Радиоэлектроника
Полупроводниковые приборы
Аннотация: Описывается источник широкоапертурного (16 * 27 см) пучка электронов с энергией 450 кэВ, током 9 кА, длительностью импульсов 12 нс и частотой повторения до 100 Гц, разработанный для стерилизации пластиковых пакетов. Формирование пучка электронов обеспечивается с помощью металлодиэлектрического катода, на котором в течение фронта напряжения за несколько наносекунд формируется взрывоэмиссионная плазма. За счёт большого числа (~ 800) тройных точек металл - диэлектрик - вакуум, а также в результате рассеяния электронов при прохождении анодной фольги и слоя воздуха достигается высокая равномерность электронного потока на расстоянии 3 см от фольги при характерном пробеге электронов в воздух до 0. 5 м.
13. Статья из журнала
Свойства резистивных сенсоров водорода в зависимости от добавок 3d-металлов, введенных в объем тонких нанокристаллических пленок SnO[2] / Е. Ю. Севастьянов [и др.]
// Известия вузов. Физика. - 2017. - Т. 60, № 7. - С. 13-16. - ISSN 0021-3411. - Режим доступа: https://elibrary.ru/contents.asp?issueid=1880400. - Библиогр.: c. 16 (13 назв. ). - рис.
// Известия вузов. Физика. - 2017. - Т. 60, № 7. - С. 13-16. - ISSN 0021-3411. - Режим доступа: https://elibrary.ru/contents.asp?issueid=1880400. - Библиогр.: c. 16 (13 назв. ). - рис.
Авторы: Севастьянов, Е. Ю., Максимова, Н. К., Потекаев, А. И., Сергейченко, Н. В., Черников, Е. В., Алмаев, А. В., Кушнарев, Б. О.
Ключевые слова: водород, диоксид олова, добавки кобальта, добавки никеля, добавки оксидов, режим термоциклирования, резистивные сенсоры водорода, сенсоры водорода, тонкие нанокристаллические пленки
Рубрики: Радиоэлектроника
Полупроводниковые приборы
Полупроводниковые приборы
Аннотация: Анализ результатов исследования электрических и газочувствительных характеристик сенсоров молекулярного водорода на основе тонких нанокристаллических пленок SnO[2] с нанесенными на поверхность дисперсными слоями Au и примесями Au+Ni и Au+Co в объеме показал, что характеристики данных сенсоров отличаются повышенной стабильностью при длительном воздействии водорода по сравнению с пленками, модифицированными только золотом Au/SnO[2]: Sb, Au. Получено, что введение добавок никеля и кобальта способствует увеличению изгиба зон на межзеренных границах диоксида олова уже в свежеприготовленных образцах, что свидетельствует о росте плотности хемосорбированного кислорода N[i]. Важно, что в процессе испытаний происходит незначительное дополнительное увеличение изгиба зон e фи[s] на межзеренных границах диоксида олова. Можно полагать, что при кристаллизации пленок в процессе термического отжига атомы 3 d -металлов в объеме SnO[2] частично сегрегируют на поверхности микрокристаллов и образуют связи с решеточным кислородом, формируются атомы сверхстехиометрического олова, плотность N[i] растет. Если связи кислорода с никелем и кобальтом более прочные, чем с сурьмой, то при длительных испытаниях атомарный водород будет окисляться не решеточным, а преимущественно хемосорбированным кислородом, при этом стабильность характеристик сенсоров увеличивается.
14. Статья из журнала
Свойства полупроводниковых нанокристаллических сенсоров СО и продуктов пиролиза в зависимости от температуры и длительности циклов нагрева и охлаждения / Е. Ю. Севастьянов [и др.]
// Известия вузов. Физика. - 2017. - Т. 60, № 7. - С. 9-12. - ISSN 0021-3411. - Режим доступа: https://elibrary.ru/contents.asp?issueid=1880400. - Библиогр.: c. 12 (9 назв. ). - рис.
// Известия вузов. Физика. - 2017. - Т. 60, № 7. - С. 9-12. - ISSN 0021-3411. - Режим доступа: https://elibrary.ru/contents.asp?issueid=1880400. - Библиогр.: c. 12 (9 назв. ). - рис.
Авторы: Севастьянов, Е. Ю., Максимова, Н. К., Потекаев, А. И., Черников, Е. В., Сергейченко, Н. В.
Ключевые слова: быстродействующие сенсоры, детектирование молекул газа, диоксид олова, монооксид углерода, полупроводниковые сенсоры, режим термоциклирования, сенсоры, термоциклирование, тонкопленочный диоксид олова, энергопотребление
Рубрики: Радиоэлектроника
Полупроводниковые приборы
Полупроводниковые приборы
Аннотация: Анализ временных зависимостей проводимости сенсоров СО на основе тонких нанокристаллических пленок диоксида олова в обычном четырехэлектродном и планарном трехэлектродном исполнении в режиме термоциклирования показал, что использование сенсоров Pt/Pd/SnO[2]: Sb в планарном исполнении в режиме термоциклирования с длительным циклом охлаждения обеспечивает возможность детектирования продуктов тления при существенном снижении потребляемой энергии.
15. Книга
Пасынков, В. В.
Полупроводниковые приборы / Пасынков В. В., Чиркин Л. К. - 9-е изд. - Санкт-Петербург : Лань. - 480 с. - ISBN 978-5-8114-0368-4.
Полупроводниковые приборы / Пасынков В. В., Чиркин Л. К. - 9-е изд. - Санкт-Петербург : Лань. - 480 с. - ISBN 978-5-8114-0368-4.
Авторы: Пасынков В. В., Чиркин Л. К.
Шифры:
Полочный: ЭБС ЛАНЬ
ББК: 32.852;
Полочный: ЭБС ЛАНЬ
ББК: 32.852;
Ключевые слова: для магистров, для бакалавров, элементы интегральных микросхем, полупроводниковые приборы, учебные издания, физические процессы, аморфные полупроводники, биполярные транзисторы, болометр, варикап, варисторы, выпрямитель селеновый, гальваномагнитные приборы, гетеропереход, диод характеристика, диоды, диоды полупроводниковые, допущено мо рф, интегральные микросхемы, контактные явления, лазер, микроэлектроника, оптоэлектронные полупроводниковые приборы, оптоэлектронные приборы, позистор, полевые транзисторы, полупроводники, полупроводниковые диоды, приборы с зарядовой связью, пробой лавинный, пробой тепловой, пробой туннельный, стабилитрон, стабистор, терморезисторы, термоэлектрические устройства, тиристоры, транзисторы, транзисторы биполярные, транзисторы полевые, учебные пособия, физика, физика полупроводников, физика полупроводников -- контактные явления -- полупроводниковые диоды -- биполярные транзисторы -- тиристоры -- полевые транзисторы -- приборы с зарядовой связью -- интегральные микросхемы -- оптоэлектронные полупроводниковые приборы -- терморезисторы -- варисторы -- термоэлектрические генераторы -- преобразователи холла, фотодиод, фоторезистор, холла преобразователь, шотки диод, электроника, электроника и микроэлектроника
Аннотация: Доп.Мин.обр.РФ для студентов ВУЗов, обучающихся по направлению подготовки бакалавров и магистров "Электроника и микроэлектроника" и по направлению подготовки дипломированных специалистов "Электроника и микроэлектроника". В книге рассмотрены физические процессы в полупроводниковых приборах и элементах интегральных микросхем, их основные свойства, характеристики и параметры, конструктивно-технологические особенности полупроводниковых приборов в интегральном исполнении и общие принципы микроэлектроники. Книга предназначена для студентов, обучающихся по образовательным программам подготовки бакалавров, магистров и дипломированных специалистов по направлению "Электроника и микроэлектроника".
Для просмотра необходимо войти в личный кабинет
16. Книга
Игумнов, Д. В.
Основы полупроводниковой электроники / Игумнов Д. В., Костюнина Г. П. - 2-е изд., доп. - Москва : Горячая линия-Телеком. - 394 с. - Допущено УМО по образованию в области прикладной информатики в качестве учебного пособия для студентов высших учебных заведений, обучающихся по специальности «Прикладная информатика» и другим междисциплинарным специальностям. - ISBN 978-5-9912-0180-3.
Основы полупроводниковой электроники / Игумнов Д. В., Костюнина Г. П. - 2-е изд., доп. - Москва : Горячая линия-Телеком. - 394 с. - Допущено УМО по образованию в области прикладной информатики в качестве учебного пособия для студентов высших учебных заведений, обучающихся по специальности «Прикладная информатика» и другим междисциплинарным специальностям. - ISBN 978-5-9912-0180-3.
Авторы: Игумнов Д. В., Костюнина Г. П.
Шифры:
Полочный: ЭБС ЛАНЬ
ББК: 32.852;
Полочный: ЭБС ЛАНЬ
ББК: 32.852;
Аннотация: В книге изложены основы построения современных полупроводниковых аналоговых и цифровых устройств. Приведены сведения о физических явлениях в полупроводниковых элементах, рассмотрены различные диоды, биполярные и полевые транзисторы. Описаны особенности интегральных схем. Основное внимание уделяется рассмотрению разнообразных транзисторных и интегральных устройств непрерывного и импульсного действия. В настоящем издании (первое издание вышло в свет в 1995 г.) приведена информация об одноэлектронных транзисторах, дополнен раздел «Постоянные запоминающие устройства» и добавлен раздел «Микропроцессоры». Для студентов вузов, будет полезна специалистам смежных с электроникой областей, которые занимаются вопросами, требующими от них дополнительных знаний по электронике.
Для просмотра необходимо войти в личный кабинет
17. Статья из журнала
Лалаянц, И. Э.
Одноатомный транзистор / И. Э. Лалаянц
// Химия - Первое сентября. - 2012. - № 8. - С. 60-61. - Библиогр.: с. 61. - 3 ил.
Одноатомный транзистор / И. Э. Лалаянц
// Химия - Первое сентября. - 2012. - № 8. - С. 60-61. - Библиогр.: с. 61. - 3 ил.
Авторы: Лалаянц, И. Э.
Ключевые слова: транзисторы, одноатомные транзисторы, полупроводники, допирующие агенты, фосфор, достижения науки, зарубежные ученые
Рубрики: Радиоэлектроника
Полупроводниковые приборы
Полупроводниковые приборы
Аннотация: Международный коллектив ученых разработал транзистор, состоящий всего из одного атома. Его работа основана на точечном замещении атомов кремния на атомы форфора в кристаллической решетке кремниевой подложки. Авторы полагают, что промышленное производство таких устройств станет возможным к 2020 г.
18. Статья из журнала
Быкова, Н.
Нитрид галлия идет на смену кремнию / Наталья Быкова. - Текст : непосредственный
// Эксперт. - 2022. - № 17/18. - С. 68-71. - ISSN 1812-1896. - 1 граф., 1 табл., цв. фот.
Нитрид галлия идет на смену кремнию / Наталья Быкова. - Текст : непосредственный
// Эксперт. - 2022. - № 17/18. - С. 68-71. - ISSN 1812-1896. - 1 граф., 1 табл., цв. фот.
Авторы: Быкова, Н.
Ключевые слова: GaN, GaN-технологии, инновационные разработки, микроэлектроника, научно-исследовательские институты, нитрид галлия, нитрид-галлиевые технологии, полупроводники, полупроводниковые приборы, полупроводниковые технологии, транзисторы, химическая физика
Рубрики: Химия
Физическая химия в целом
Техника
Материаловедение
Радиоэлектроника
Полупроводниковые приборы
Экономика
Экономика машиностроительной промышленности
Физическая химия в целом
Техника
Материаловедение
Радиоэлектроника
Полупроводниковые приборы
Экономика
Экономика машиностроительной промышленности
Аннотация: Приводится краткая информация о свойствах нитрида галлия (GaN), делающих его перспективным материалом для микроэлектроники, а также изучении его потенциала в отечественных и зарубежных лабораториях. Рассказывается о сферах применения разработок, основанных на GaN-технологиях. Освещается деятельность российских научно-исследовательских институтов по созданию полупроводниковых электронных устройств на базе нитрида галлия.
19. Статья из журнала
Малышев, И. В.
Нелинейность коэффициента диффузии горячих носителей в объеме полупроводника под действием электрического и магнитного полей / И. В. Малышев, К. А. Филь, Н. В. Паршина
// Известия вузов. Физика. - 2017. - Т. 60, № 6. - С. 3-6. - ISSN 0021-3411. - Режим доступа: https://elibrary.ru/contents.asp?issueid=1839868. - Библиогр.: c. 6 (4 назв. ). - рис.
Нелинейность коэффициента диффузии горячих носителей в объеме полупроводника под действием электрического и магнитного полей / И. В. Малышев, К. А. Филь, Н. В. Паршина
// Известия вузов. Физика. - 2017. - Т. 60, № 6. - С. 3-6. - ISSN 0021-3411. - Режим доступа: https://elibrary.ru/contents.asp?issueid=1839868. - Библиогр.: c. 6 (4 назв. ). - рис.
Авторы: Малышев, И. В., Филь, К. А., Паршина, Н. В.
Ключевые слова: диффузионные характеристики, дрейфовая скорость, дрейфовые характеристики, коэффициент диффузии, магнитное поле, носители заряда, полупроводники, преобразовательные устройства, электрическое поле, энергия разогрева носителей тока, эффективная масса
Рубрики: Радиоэлектроника
Полупроводниковые приборы
Полупроводниковые приборы
Аннотация: На основе феноменологического рассмотрения процессов дрейфа и разогрева носителей в объеме полупроводников типа А III B V в сильных перекрёстных электрических и магнитных полях построена квазитрехмерная модель, описывающая основные кинетические составляющие параметров тока. Проанализировано поведение коэффициента диффузии в условиях такого воздействия. Выявлено, что неравенство продольной и поперечной компонент эффективной массы и кинетической энергии приводит к сильным различиям компонент коэффициента диффузии и дрейфовой скорости. Проанализировано поведение дрейфовой и диффузионной характеристик в магнитных полях с различной интенсивностью индукции. Получено, что при увеличении магнитной индукции возникает рост значения продольной компоненты скорости, а в дальнейшем на дрейфовой поперечной индукционной характеристике возникают падающие участки, что свидетельствует о возможности использования этого эффекта для создания нелинейных индукционных активных элементов. Обнаружена анизотропия на поперечной диффузионной индукционной характеристике, выражающаяся в том, что при больших значениях Bz > 2 Тл происходит "расщепление" максимума на два, что также перспективно с точки зрения создания нового класса преобразовательных устройств.
20. Статья из журнала
Любавин, К. Д. (ведущий инженер; АО "Крафтвэй Корпорэйшн ПЛС" (Москва)).
Методы построения высокопроизводительных межсоединений системных шин для систем на кристалле = Methods for constructing high-performance Interconnects in System-On-Chip Designs / К. Д. Любавин, Д. В. Тельпухов. - Текст : электронный
// Информационные технологии. - 2024. - Т. 30, № 8. - С. 433-439. - ISSN 1684-6400.
Методы построения высокопроизводительных межсоединений системных шин для систем на кристалле = Methods for constructing high-performance Interconnects in System-On-Chip Designs / К. Д. Любавин, Д. В. Тельпухов. - Текст : электронный
// Информационные технологии. - 2024. - Т. 30, № 8. - С. 433-439. - ISSN 1684-6400.
Авторы: Любавин, К. Д., Тельпухов, Д. В.
Ключевые слова: программируемая архитектура, система межсоединений, интерконнект, системные интерфейсы
Рубрики: Радиоэлектроника
Полупроводниковые приборы
Полупроводниковые приборы
Аннотация: Рассмотрены вопросы построения высокопроизводительных межсоединений (интерконнектов) для систем на кристалле.