Поле | Название | Значение |
|
Тип записи |
x |
|
Библиографический уровень |
b |
001 |
Контрольный номер |
izph22_to65_no3_ss92_ad1 |
005 |
Дата корректировки |
20230410153254.1 |
008 |
Кодируемые данные |
230327s2022||||RU|||||||||||#||||# rus0| |
035 |
Системный контрольный номер |
__ |
a |
Системный контрольный номер |
RUMARS-izph22_to65_no3_ss92_ad1 |
2 |
|
AR-MARS |
040 |
Источник каталогиз. |
__ |
a |
Служба первич. каталог. |
Научная библиотека им. М. М. Бахтина Мордовского госуниверситета им. Н. П. Огарева |
b |
Код языка каталог. |
rus |
041 |
Код языка издания |
0_ |
a |
Код языка текста |
rus |
h |
Код языка оригинала |
rus |
080 |
Индекс УДК |
__ |
a |
Индекс УДК |
539.2 |
080 |
Индекс УДК |
__ |
a |
Индекс УДК |
539.21:537 |
084 |
Индекс другой классификации/Индекс ББК |
__ |
a |
Индекс другой классификации/Индекс ББК |
22.37 |
v |
|
Таблицы для массовых библиотек |
084 |
Индекс другой классификации/Индекс ББК |
__ |
a |
Индекс другой классификации/Индекс ББК |
22.373 |
v |
|
Таблицы для массовых библиотек |
100 |
Автор |
1_ |
a |
Автор |
Сахаров, Ю. В. |
4 |
Код отношения |
070 |
245 |
Заглавие |
10 |
a |
Заглавие |
Влияние полярности напряжения на электрическую прочность тонкопленочных конденсаторов |
c |
Ответственность |
Ю. В. Сахаров, А. Е. Субботина |
336 |
Вид содержания |
__ |
a |
Термин вида содержания |
Текст |
337 |
Средство доступа |
__ |
a |
Термин типа средства |
электронный |
504 |
Библиография |
__ |
a |
Библиография |
Библиогр.: с. 96 (7 назв. ) |
520 |
Аннотация |
__ |
a |
Аннотация |
Выявлены особенности влияния смены полярности приложенного к обкладкам тонкопленочных конденсаторов напряжения на изменение напряжения электрического пробоя. Установлена причина уменьшения напряжения первого пробоя тонкопленочного конденсатора при смене полярности приложенного напряжения. Данное уменьшение обусловлено сильным увеличением напряженности электрического поля в объеме диэлектрика за счет накопления на микроостриях электродов отрицательного объемного заряда, когда электрод был под отрицательным потенциалом. Данный эффект наблюдается в конденсаторных структурах Al-SiO2-Al и Al-TiO2-Al, что позволяет предположить его универсальность и распространить на весь спектр диэлектрических пленок, используемых в микроэлектронике. |
650 |
Тематические рубрики |
_4 |
a |
Основная рубрика |
Физика |
2 |
Источник рубрики |
AR-MARS |
650 |
Тематические рубрики |
_4 |
a |
Основная рубрика |
Физика твердого тела. Кристаллография в целом |
2 |
Источник рубрики |
AR-MARS |
650 |
Тематические рубрики |
_4 |
a |
Основная рубрика |
Электрические и магнитные свойства твердых тел |
2 |
Источник рубрики |
AR-MARS |
653 |
Ключевые слова |
0_ |
a |
Ключевые слова |
диэлектрические пленки |
653 |
Ключевые слова |
0_ |
a |
Ключевые слова |
напряжение пробоя тонкопленочного конденсатора |
653 |
Ключевые слова |
0_ |
a |
Ключевые слова |
пленки диоксида кремния |
653 |
Ключевые слова |
0_ |
a |
Ключевые слова |
пробой тонкопленочных конденсаторов |
653 |
Ключевые слова |
0_ |
a |
Ключевые слова |
прочность тонкопленочных конденсаторов |
653 |
Ключевые слова |
0_ |
a |
Ключевые слова |
радиус закругления микроострия |
653 |
Ключевые слова |
0_ |
a |
Ключевые слова |
смена полярности приложенного напряжения |
653 |
Ключевые слова |
0_ |
a |
Ключевые слова |
тонкопленочный конденсатор |
700 |
Другие авторы |
1_ |
a |
Другие авторы |
Субботина, А. Е. |
4 |
Код отношения |
070 |
773 |
Источник информации |
__ |
x |
ISSN |
0021-3411 |
t |
Название источника |
Известия вузов. Физика |
d |
Место и дата издания |
2022 |
g |
Прочая информация |
Т. 65, № 3. - С. 92-96 |
w |
Контрольный № источника |
a02c057ab1b3400689605508f0a4c637 |
801 |
Источник записи |
_0 |
a |
Код страны участника АРБИКОН |
RU |
b |
Код библиотеки-участника АРБИКОН |
43013090 |
c |
Дата составления записи |
20230327 |
g |
|
RCR |
801 |
Источник записи |
_1 |
a |
Код страны участника АРБИКОН |
RU |
b |
Код библиотеки-участника АРБИКОН |
43013090 |
c |
Дата составления записи |
20230327 |
801 |
Источник записи |
_2 |
a |
Код страны участника АРБИКОН |
RU |
b |
Код библиотеки-участника АРБИКОН |
AR-MARS |
c |
Дата составления записи |
20230327 |
g |
|
RCR |
801 |
Источник записи |
_3 |
a |
Код страны участника АРБИКОН |
RU |
b |
Код библиотеки-участника АРБИКОН |
AR-MARS |
c |
Дата составления записи |
20230327 |
856 |
Электронный адрес документа |
__ |
u |
URL |
https://www.elibrary.ru/contents.asp?id=50415658 |
z |
Примечание для пользователя |
Режим доступа: с компьютеров КГПИ КемГУ, авторизованный |
901 |
Тип документа |
__ |
t |
Тип документа |
b |
903 |
Служебное поле (Проект МАРС) |
__ |
a |
Код характеристики |
code |
b |
Значение характеристики |
izph |
d |
|
36 |
903 |
Служебное поле (Проект МАРС) |
__ |
a |
Код характеристики |
year |
b |
Значение характеристики |
2022 |
903 |
Служебное поле (Проект МАРС) |
__ |
a |
Код характеристики |
to |
b |
Значение характеристики |
65 |
903 |
Служебное поле (Проект МАРС) |
__ |
a |
Код характеристики |
no |
b |
Значение характеристики |
3 |
903 |
Служебное поле (Проект МАРС) |
__ |
a |
Код характеристики |
ss |
b |
Значение характеристики |
92 |
903 |
Служебное поле (Проект МАРС) |
__ |
a |
Код характеристики |
ad |
b |
Значение характеристики |
1 |
911 |
Журнальная рубрика (Проект МАРС) |
__ |
a |
Сведения о журнальных рубриках |
Физика полупроводников и диэлектриков |