Лабораторный практикум: физика и физиотерапия : учебно-методическое пособие / Дрокова О. В.,Коняева Н. В.,Тараненко Т. А.,Шемякина С. А. - Волгоград : ВолгГМУ, 2024. - 180 с.

Авторы: Дрокова О. В., Коняева Н. В., Тараненко Т. А., Шемякина С. А.

Шифры:
Полочный: ЭБС ЛАНЬ
ББК: 22.3с;

Аннотация: Материал, изложенный в данном учебно-методическом пособии, соответствует программе ФГОС ВО для студентов, обучающихся по дисциплинам: «Физика, математика», «Медицинская и биологическая физика» и «Медицинская физика, информатика», для студентов, обучающихся по специальностям: 31.05.03 – «Стоматология», 31.05.02 – «Педиатрия», 31.05.01 –«Лечебное дело», 32.05.01 – «Медико-профилактическое дело», 33.05.01 – «Фармация». Каждая лабораторная работа содержит краткие теоретические сведения, описание лабораторной установки, порядок выполнения работы, контрольные вопросы и задачи для самоконтроля.

Кузнецов Ю. М.
RC-генератор на биполярном транзисторе. Практикум / Кузнецов Ю. М.,Хазанова С. В.,Королев Д. С. - Нижний Новгород : ННГУ им. Н. И. Лобачевского, 2024. - 19 с. - Рекомендовано методической комиссией физического факультета для студентов ННГУ, обучающихся по направлениям подготовки: 11.03.04 – «Электроника и наноэлектроника» 28.03.01 – «Нанотехнологии и микросистемная техника».

Авторы: Кузнецов Ю. М., Хазанова С. В., Королев Д. С.

Шифры:
Полочный: ЭБС ЛАНЬ
ББК: 22.379;

Аннотация: Настоящий практикум является частью цикла лабораторных работ, выполняемых на физическом факультете ННГУ в рамках курса «Теоретические основы электро- и радиотехники». Пособие посвящено описанию устройства и принципов работы RC-генератора на биполярном транзисторе.

Круглов А. В.
Сканирующая зондовая литография: Описание лабораторной работы / Круглов А. В. - Нижний Новгород : ННГУ им. Н. И. Лобачевского, 2022. - 20 с. - Рекомендовано ученым советом Балахнинского филиала ННГУ для учащихся 10-11 классов СУНЦ ННГУ при выполнении курса внеурочной деятельности «Проектные научные исследования в области современной нанофизики и физической химии».

Авторы: Круглов А. В.

Шифры:
Полочный: ЭБС ЛАНЬ
ББК: 22.3с;

Аннотация: Данная лабораторная работа является работой базового уровня из курса работ, проводящихся на сканирующем зондовом микроскопе Ntegra Academia в Центре научных исследований и проектной деятельности Специализированного учебного научного центра ННГУ. Выполняется после проведения лабораторной работы начального уровня «Получение первого изображения на сканирующем зондовом микроскопе Ntegra Academia. Обработка и представление результатов эксперимента». Описание лабораторной работы представляет собой изложение физических основ сканирующей зондовой литографии, как средства модификации поверхности твердых тел в нанометровых масштабах, являющейся одним из направлений нанотехнологии. Приводится подробное описание различных видов литографии, выполняемых с помощью сканирующего зондового микроскопа. Представлено описание методики растровой динамической силовой литографии для прибора Ntegra Academia. Описание лабораторной работы предназначено для учащихся 10-11 классов СУНЦ ННГУ при выполнении курса внеурочной деятельности «Проектные научные исследования в области современной нанофизики и физической химии».

Круглов А. В.
Получение первого изображения на сканирующем зондовом микроскопе ntegra academia. обработка и представление результатов эксперимента: описание лабораторной работы / Круглов А. В. - Нижний Новгород : ННГУ им. Н. И. Лобачевского, 2022. - 40 с.

Авторы: Круглов А. В.

Шифры:
Полочный: ЭБС ЛАНЬ
ББК: 22.3с;

Аннотация: Данная лабораторная работа является работой начального уровня из курса работ, проводящихся на сканирующем зондовом микроскопе Ntegra Academia в Центре научных исследований и проектной деятельности Специализированного учебного научного центра ННГУ. Описание лабораторной работы представляет собой изложение физических основ метода сканирующей зондовой микроскопии и описание его применения для исследования морфологии поверхности твердых тел. В нем описаны общая конструкция сканирующего зондового микроскопа, различные виды и принципы действия датчиков взаимодействия (сенсоров), сканеров, системы обратной связи. Представлено описание учебного микроскопа Ntegra Academia, дается описание методики обработки экспериментальных результатов и способов представления результатов. Описание лабораторной работы предназначено для учащихся 10-11 классов СУНЦ ННГУ при выполнении курса внеурочной деятельности «Проектные научные исследования в области современной нанофизики и физической химии».

Круглов А. В.
Исследование поверхности твердых тел методом атомно-силовой микроскопии: Описание лабораторной работы / Круглов А. В. - Нижний Новгород : ННГУ им. Н. И. Лобачевского, 2022. - 30 с. - Рекомендовано ученым советом Балахнинского филиала ННГУ для учащихся 10-11 классов СУНЦ ННГУ при выполнении курса внеурочной деятельности «Проектные научные исследования в области современной нанофизики и физической химии».

Авторы: Круглов А. В.

Шифры:
Полочный: ЭБС ЛАНЬ
ББК: 22.3с;

Аннотация: Данная лабораторная работа является работой начального уровня из курса работ, проводящихся на сканирующем зондовом микроскопе Ntegra Academia в Центре научных исследований и проектной деятельности Специализированного учебного научного центра ННГУ. Выполняется после проведения лабораторной работы начального уровня «Получение первого изображения на сканирующем зондовом микроскопе Ntegra Academia. Обработка и представление результатов эксперимента». Описание лабораторной работы представляет собой изложение физических основ одного из методов сканирующей зондовой микроскопии – атомно-силовой микроскопии и описание его применения для исследования поверхности твердых тел. В нем приводится описание сил, действующих между двумя сближающимися твердыми телами (зондом и исследуемой поверхностью), дается представление о различных способах проведения атомно-силовой микроскопии (контактный, неконтактный, полуконтактный режим работы), конструкциях и принципах работы датчиков измерения сил. Описание лабораторной работы предназначено для учащихся 10-11 классов СУНЦ ННГУ при выполнении курса внеурочной деятельности «Проектные научные исследования в области современной нанофизики и физической химии».

Сомов Н. В.
Измерение показателя преломления жидкостей и твердых тел на рефрактометре ИРФ-454 Б2М: Практикум / Сомов Н. В.,Кудряшов М. В. - Нижний Новгород : ННГУ им. Н. И. Лобачевского, 2022. - 22 с. - Рекомендовано методической комиссией физического факультета для студентов ННГУ, обучающихся по направлениям подготовки бакалавриата 03.03.02 «Физика» и магистратуры 03.04.02 «Физика».

Авторы: Сомов Н. В., Кудряшов М. В.

Шифры:
Полочный: ЭБС ЛАНЬ
ББК: 22.3с;

Аннотация: Настоящий практикум содержит краткое описание теоретических основ определения показателя преломления и его дисперсии при помощи рефрактометра ИРФ-454 Б2М. Подробно изложены алгоритмы проведения измерений показателя преломления и его дисперсии для жидкостей и твердых тел, приведены справочные таблицы. Данный практикум предназначен для студентов физического факультета, обучающихся по направлениям подготовки бакалавриата 03.03.02 «Физика» и магистратуры 03.04.02 «Физика». Приведенные в практикуме сведения также могут оказаться полезными для аспирантов, преподавателей и научных работников физического и химического факультетов.

Круглов А. В.
Артефакты в сканирующей зондовой микроскопии: Описание лабораторной работы / Круглов А. В. - Нижний Новгород : ННГУ им. Н. И. Лобачевского, 2022. - 32 с. - Рекомендовано ученым советом Балахнинского филиала ННГУ для учащихся 10-11 классов СУНЦ ННГУ при выполнении курса внеурочной деятельности «Проектные научные исследования в области современной нанофизики и физической химии».

Авторы: Круглов А. В.

Шифры:
Полочный: ЭБС ЛАНЬ
ББК: 22.3с;

Аннотация: Данная лабораторная работа является работой базового уровня из курса работ, проводящихся на сканирующем зондовом микроскопе Ntegra Academia в Центре научных исследований и проектной деятельности Специализированного учебного научного центра ННГУ. Выполняется после проведения лабораторной работы начального уровня «Получение первого изображения на сканирующем зондовом микроскопе Ntegra Academia. Обработка и представление результатов эксперимента». Описание лабораторной работы представляет собой изложение источников артефактов в сканирующей зондовой микроскопии. В нем описываются основные компоненты сканирующего зондового микроскопа, являющиеся источниками артефактов – пьезоэлектрическая керамика и зонд конечной формы. Приводится подробное описание свойств пьезоэлектрических материалов и их влияние на результаты измерений в сканирующей зондовой микроскопии, дается представление о влиянии формы зонда на получаемое СЗМ изображение (эффект конволюции) и способы учета и устранения подобного влияния. Описание лабораторной работы предназначено для учащихся 10-11 классов СУНЦ ННГУ при выполнении курса внеурочной деятельности «Проектные научные исследования в области современной нанофизики и физической химии».

Ансельм, А. И.
Введение в теорию полупроводников : учебное пособие для вузов / А. И. Ансельм. - 3-е изд. ; стер. - Санкт-Петербург ; Москва ; Краснодар : Лань, 2008. - 618 с. - (Классическая учебная литература по физике). - ISBN 9785811407620. - Текст : непосредственный.

Авторы: Ансельм А. И.

Шифры:
Полочный: 22.379
Авторский знак: А71
ББК: 22.379;

Экземпляры: Всего: 1, из них:
ФМФ и ТЭФ (пр.Пионерский,13) - свободно 1 из 1

Солимар, Л.
Лекции по электрическим свойствам материалов / Л. Солимар, Д. Уолш ; перевод с английского под редакцией С. И. Баскакова. - Москва : Мир, 1991. - 502 с. : ил. - ISBN 5-03-001934-0. - Текст : непосредственный.

Авторы: Солимар Л., Уолш Д., Баскаков С. И.

Шифры:
Полочный: 22.379
Авторский знак: С 60
ББК: 22.379;

Экземпляры: Всего: 2, из них:
ФМФ и ТЭФ (пр.Пионерский,13) - свободно 2 из 2

Вавилов, В. С.
Дефекты в кремнии и на его поверхности / В. С. Вавилов, В. Ф. Киселев Б. Н. Мукашев. - Москва : Наука, 1990. - 212 с. - (Физика полупроводников и полупроводниковых приборов). - Библиогр.: с. 190-212. - ISBN 5020140236. - Текст : непосредственный.

Авторы: Вавилов В. С.

Шифры:
Полочный: 22.379
Авторский знак: В 12
ББК: 22.379;

Экземпляры: Всего: 1, из них:
ФМФ и ТЭФ (пр.Пионерский,13) - свободно 1 из 1

Ридли.
Квантовые процессы в полупроводниках : перевод с английского. - Москва : Мир, 1986. - 304 с. : ил. - Библиогр.: с. 301. - Текст : непосредственный.

Авторы: Ридли

Шифры:
Полочный: 22.379
Авторский знак: Р 49
ББК: 22.379;

Экземпляры: Всего: 1, из них:
ФМФ и ТЭФ (пр.Пионерский,13) - свободно 1 из 1

Аскеров, Б. М.
Электронные явления переноса в полупроводниках. - Москва : Наука, 1985. - 318 с. - Библиогр.: с. 310-318. - ISBN XXXXXXXX. - Текст : непосредственный.

Авторы: Аскеров Б. М.

Шифры:
Полочный: 22.379
Авторский знак: А 90
ББК: 22.379;

Экземпляры: Всего: 1, из них:
ФМФ и ТЭФ (пр.Пионерский,13) - свободно 1 из 1

Фистуль, В.И.
Введение в физику полупроводников : учебник для студентов вузов. - Изд.2-е ; перераб. и доп. - Москва : Высшая школа, 1984. - 352 с. : ил. - Библиогр.: с. 346-348. - Текст : непосредственный.

Авторы: Фистуль В.И.

Шифры:
Полочный: 22.379
Авторский знак: Ф 63
ББК: 22.379;

Экземпляры: Всего: 1, из них:
ФМФ и ТЭФ (пр.Пионерский,13) - свободно 1 из 1

Фотоэлектрические явления : перевод с немецкого / И. Аут, Д. Генцов, К. Герман ; под ред. В. Л. Бонч-Бруевича. - Москва : Мир, 1980. - 208 с. - Библиогр.: с. 199-206. - ISBN XXXXXXXX. - Текст : непосредственный.

Авторы: Аут И., Генцов Д., Герман К., Бонч-Бруевич В. Л.

Шифры:
Полочный: 22.379
Авторский знак: А 93
ББК: 22.379;

Экземпляры: Всего: 1, из них:
ФМФ и ТЭФ (пр.Пионерский,13) - свободно 1 из 1

Ансельман, А. И.
Введение в теорию полупроводников : учебное пособие для студентов вузов. - Изд. 2-е ; доп. и перераб. - Москва : Наука : Физматлит, 1978. - 615 с. : ил. - Текст : непосредственный.

Авторы: Ансельман А. И.

Шифры:
Полочный: 22.379
Авторский знак: А 71
ББК: 22.379;

Экземпляры: Всего: 2, из них:
ФМФ и ТЭФ (пр.Пионерский,13) - свободно 2 из 2

Бонч-Бруевич, В. Л.
Физика полупроводников : учебное пособие для вузов. - Москва : Наука, 1977. - 672 с. - Текст : непосредственный.

Авторы: Бонч-Бруевич В. Л.

Шифры:
Полочный: 22.379
Авторский знак: Б 81
ББК: 22.379;

Экземпляры: Всего: 1, из них:
Аб2 (пр.Пионерский,13) - свободно 1 из 1

Проблемы физики полупроводников : сборник статей : пер. с англ. / под ред. В. Л. Бонч-Бруевича. - Москва : Издательство иностранной литературы, 1957. - 629 с. - Текст : непосредственный.

Шифры:
Полочный: 22.379
Авторский знак: П 78
ББК: 22.379;

Экземпляры: Всего: 1, из них:
хр (пр.Металлургов,19) - свободно 1 из 1

Электрофизические свойства и определение импеданса тканей вестибулярного лабиринта / В. П. Демкин [и др.]
// Известия вузов. Физика. - 2018. - Т. 61, № 11. - С. 68-75. - ISSN 0021-3411. - Режим доступа: https://elibrary.ru/contents.asp?titleid=36517043. - Библиогр.: с. 74-75 (31 назв. ). - рис., табл.

Авторы: Демкин, В. П., Мельничук, С. В., Щетинин, П. П., Кингма, Г., Ван Де Берг, Р.

Аннотация: Предложена детализированная электрическая модель распространения тока через ткани вестибулярного лабиринта на основе анатомической структуры лабиринта, с учетом электрофизических свойств волосковых и базилярных клеток нейроэпителия. Получены формулы для импеданса вестибулярного органа и проведены расчеты фазовых смещений стимулирующего тока на основе экспериментальных данных об электрофизических и анатомических характеристиках тканей вестибулярного лабиринта морской свинки. Исследована дисперсия импеданса в интервале частот 10{1}-5? 10{4} Гц. Показано, что фазовое смещение тока по отношению к напряжению, приложенному между электродом и вестибулярным нервом, имеет немонотонный характер в зависимости от частоты. Минимальное отрицательное значение фазового смещения тока наблюдается при f = 200 Гц. Учет клеточных структур волосковых и базилярных клеток в электрической цепи показывает, что в рассматриваемом интервале частот они вносят существенный вклад в общий импеданс. Предложенная электрическая модель и результаты расчетов могут служить основой для диагностики заболеваний вестибулярного лабиринта и проектирования нового типа вестибулярных имплантов.

Хлудков, С. С.
Электрические, структурные и магнитные свойства арсенида галлия, легированного железом / С. С. Хлудков, И. А. Прудаев, О. П. Толбанов
// Известия вузов. Физика. - 2018. - Т. 61, № 3. - С. 82-88. - ISSN 0021-3411. - Режим доступа: https://elibrary.ru/contents.asp?issueid=2199341. - Библиогр.: c. 87-88 (40 назв. ). - рис.

Авторы: Хлудков, С. С., Прудаев, И. А., Толбанов, О. П.

Аннотация: Систематизированы данные по электрическим, структурным и магнитным свойствам арсенида галлия, легированного железом и полученного разными методами. Рассмотрены условия получения структур с магнитными свойствами.

Тагиев, М. М.
Электрические и гальваномагнитные свойства экструдированных образцов твердого раствора Bi[85]Sb[15] c примесями Pb и Te / М. М. Тагиев, Г. Д. Абдинова
// Известия вузов. Физика. - 2018. - Т. 61, № 11. - С. 170-173. - ISSN 0021-3411. - Режим доступа: https://elibrary.ru/contents.asp?titleid=36517043. - Библиогр.: с. 173 (18 назв. ). - рис., табл.

Авторы: Тагиев, М. М., Абдинова, Г. Д.

Аннотация: Изучено влияние примесей теллура на электропроводность (s), коэффициент Зеебека (альфа) и постоянную Холла R экструдированных образцов Bi[85]Sb[15] + 0. 001 ат. % Pb в диапазоне температур 77-300 К. Было обнаружено, что примеси теллура до 0. 001 ат. % компенсирующих акцепторных атомов Pb приводили к сильному затуханию электронной плотности и, следовательно, к увеличению Q, а значения альфа и R были значительно уменьшены. Полученные материалы могут быть использованы в качестве п-ветви термоэлементов, функционирующих при температурах ~ 77 К.